Растровый электронный микроскоп CAMSCAN - S4 с энергодисперсионной
и волнодисперсионной приставками:  Oxford INCA Еnergy 350 и INCA Wave 700. (Саmbrige, Англия)

Описание установки:

Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм.

Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.).

На основе растрового электронного микроскопа «CAMSCAN-S4» создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0.1 — 20.0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм.

Сертификат № 130 о калибровке средства измерений (ОАО «НИЦПВ», Россия).

Имеется также приставка к растровому электронному микроскопу CAMSCAN — s4 — волнодисперсионный спектрометр Inca Wave 700 (Саmbrige, Англия, 2007г.) с пятью дифракционными кристаллами в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели.

Приставка обеспечивает анализ любых элементов, начиная от бериллия.

124460, Москва, г. Зеленоград, ул. конструктора Гуськова, дом 5.

Тел: +7 (499) 214-01-14,          Электронная почта: admin@niifp.ru,

Факс: +7 (499) 731-55-92.                                    kozlitin50@mail.ru.