О компании
Оборудование
Услуги
Сотрудники
Достижения
Контакты
  ГлавнаяОборудованиеРастровый электронный микроскоп CAMSCAN - S4  
Сотрудник:

Козлитин
Алексей Иванович


Растровый электронный микроскоп CAMSCAN - S4 с энергодисперсионной
и волнодисперсионной приставками:  Oxford INCA Еnergy 350 и INCA Wave 700. (Саmbrige, Англия)

Фото установки
CamScan-S4

Описание установки:

Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм.

Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.).

На основе растрового электронного микроскопа «CAMSCAN-S4» создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0.1 — 20.0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм.

Сертификат № 130 о калибровке средства измерений (ОАО «НИЦПВ», Россия).

Имеется также приставка к растровому электронному микроскопу CAMSCAN — s4 — волнодисперсионный спектрометр Inca Wave 700 (Саmbrige, Англия, 2007г.) с пятью дифракционными кристаллами в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели.

Кристалл 2d, нм Диапазон знергий, КэВ Тип
LiF 0.40267 10.84—3.33 Йохансона
PET 0.8742 4.99—1.54 Йохансона
TAP 2.575 1.70—0.52 Йохансона
LSM60 6.0 0.73—0.22 Йохана
LSM200 19.7 0.22—0.07 Йохана

Приставка обеспечивает анализ любых элементов, начиная от бериллия.

 

124460, Москва, г. Зеленоград, ул. конструктора Гуськова, дом 5.

Тел: +7 (499) 736-19-16,          Электронная почта: info@ckp.su

Факс: +7 (499) 731-55-92.      

Rambler's Top100